電競資訊04月28日稱 知名硬件分析師 Igor Wallossek 旗下的 Igor's Lab 近日發(fā)布報(bào)告,，揭示了英偉達(dá)RTX 50 系列顯卡可能存在一個(gè)潛在的硬件缺陷：關(guān)鍵供電區(qū)域的溫度過高問題。如果問題得不到解決,，這可能威脅到這些新一代顯卡的穩(wěn)定性和長期使用壽命,。

Igor's Lab 的團(tuán)隊(duì)通過熱成像和細(xì)致測試，在顯卡 PCB 上,，特別是在電壓調(diào)節(jié)模塊（VRMs）附近,，發(fā)現(xiàn)了局部的高溫?zé)狳c(diǎn)。分析認(rèn)為,，供電子系統(tǒng)中的電子元件（如 FETs,、電感線圈等）為了追求緊湊的 PCB 設(shè)計(jì)，被放置得過于靠近,，犧牲了散熱空間,，加劇了熱密度。

測試數(shù)據(jù)顯示令人擔(dān)憂,。在一項(xiàng)對比測試中,，PNY RTX 5070 和 Palit RTX 5080 Gaming Pro OC 顯卡的 VRM 區(qū)域溫度表現(xiàn)不一,。RTX 5080 的 VRM 區(qū)域測得溫度為 80.5°C，而 RTX 5070 在同一區(qū)域的溫度飆升至驚人的 107.3°C,，遠(yuǎn)超長期安全運(yùn)行的范圍,。這可能與 RTX 5070 相對較短的 PCB 設(shè)計(jì)導(dǎo)致供電元件更集中有關(guān)。

報(bào)告指出,，這并非個(gè)例,，該缺陷似乎影響了基于當(dāng)前設(shè)計(jì)的所有 RTX 50 系列 GPU。Igor's Lab 推測,，問題根源可能在于英偉達(dá)提供給其合作廠商（AIB）的散熱設(shè)計(jì)指導(dǎo)存在疏漏,，未能充分考慮理想散熱條件之外的情況、PCB 功率損耗及元件在高溫下的異常行為,。

如果這些問題未能解決,，顯卡的供電元件（如電容、MOSFETs）在持續(xù)高溫下會(huì)加速老化,，可能導(dǎo)致電壓不穩(wěn)定,、崩潰、焊點(diǎn)劣化,，甚至縮短顯卡壽命,，提前發(fā)生故障。這令人聯(lián)想到 RTX 4090 電源接口熔毀事件,，但這次的問題可能根植于 PCB 設(shè)計(jì)本身。